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優(yōu)睿譜半導(dǎo)體交付SiC晶圓檢測設(shè)備

作者 |發(fā)布日期 2024 年 06 月 13 日 11:27 | 分類 企業(yè)
近日,上海優(yōu)睿譜半導(dǎo)體設(shè)備有限公司(下文簡稱“優(yōu)睿譜”)成功交付客戶一款晶圓邊緣檢測設(shè)備SICE200,設(shè)備可用于硅基以及化合物半導(dǎo)體襯底及外延晶圓的邊緣缺陷檢測。 source:優(yōu)睿譜 據(jù)介紹,優(yōu)睿譜本次推出的SICE200設(shè)備可兼容6&8英寸碳化硅&硅襯底和...  [詳內(nèi)文]