為了提升并確保Micro LED顯示器的良率,檢測與修復是制程中不可或缺的關鍵步驟。然而,對致力于生產(chǎn)Micro LED顯示器的廠商來說,檢測并修復巨量而細小的Micro LED芯片,依然是一項艱巨挑戰(zhàn)。
LED測試包括光致發(fā)光測試(Photoluminescence; PL)及...  [詳內(nèi)文]
為確保并提升Micro LED顯示器良率,檢測與修復仍是大挑戰(zhàn) |
作者 Wen, James|發(fā)布日期 2019 年 06 月 14 日 11:33 | 分類 Micro LED |