日前,國家質(zhì)檢總局、國家標(biāo)準(zhǔn)委批準(zhǔn)發(fā)布了《半導(dǎo)體照明設(shè)備和系統(tǒng)的光輻射安全測(cè)試方法》國家標(biāo)準(zhǔn),該標(biāo)準(zhǔn)以照明設(shè)備和系統(tǒng)構(gòu)建的光環(huán)境為對(duì)象,針對(duì)照明環(huán)境現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)際使用情況,提出了現(xiàn)場(chǎng)照明環(huán)境的光輻射安全分類、測(cè)量與評(píng)價(jià)方法。
隨著LED技術(shù)的快速發(fā)展,其在普通照明和顯示等領(lǐng)域均有廣泛...  [詳內(nèi)文]
半導(dǎo)體照明設(shè)備和系統(tǒng)光輻射安全標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布 |
作者 Wen, James|發(fā)布日期 2018 年 04 月 23 日 9:53 | 分類 產(chǎn)業(yè) |